Zkušební svorka IO, počet cest: 16, DIP, pokovení kontaktu: Nikl, stříbro

Profesionální testovací objímky IC s kontakty z niklové slitiny v termoplastickém lití vysoké kvality
Funkce otřásají akční kontakty typu 'UCK Bill' pro optimální elektrickou spolehlivost, pružina se zvýšenou odolností pro pevný jednotný přítlak a provedení s otevřeným nosem, které umožňuje přímý přístup k sondě na balíčcích Dual-In-Line (DIP).
Kontaktní hřeben se vejde mezi sadu DIP, což vede k eliminaci nebezpečí zkratu elektrické soustavy
Testovací klipy lze použít se standardními dvoupolohovými balíky do 14, 16, 20, 24, 28 a 40 pinů
Tělový materiál Vysoce kvalitní termoplast, pozlacené pokovení
Kontaktní materiál - slitina stříbra niklu
Provozní teplota -55 °C až +165 °C.
Hořlavost UL 94 V-0
Jmenovitý proud 2A

S touto zkušební sponou pro integrované obvody od společnosti 3M získáte uchopení vaší aplikace. Jeho pružinové kontakty se pevně upevňují na nohy integrovaného obvodu, což umožňuje plynulý průchod signálů mezi zkušebním zařízením a připojeným obvodem. Konstrukce s otevřeným nosem umožňuje přístup k sondě přímo u kolíků DIP pro přesné připojení.

• Zlacený materiál těla zajišťuje účinnou odolnost proti korozi
• Rozsah provozních teplot -55 °C až +165 °C pro použití v náročných prostředích
• Kontaktní hřeben zapadá mezi vodiče pouzdra DIP, takže nehrozí riziko elektrického zkratu

• Odstraňování poruch a opravy elektroniky
• Testování výroby
• Experimentování s prototypem

Jednotky DIP se skládají ze dvou řad kolíků uspořádaných v přímé linii, přičemž kolíky na obou stranách pouzdra jsou rovnoměrně vzdálené. To poskytuje kompaktní a spolehlivé řešení pro připojení integrovaných obvodů k desce obvodů.